超声相控阵发展
超声相控阵技术已有近20多年的发展历史。初期主要应用于医学领域,医学超声成像中用相控阵换能器快速移动声束对被检的地方成像;大功率超声利用其可控聚焦特性局部升温热疗治癌,使目标组织升温并减少非目标组织的功率吸收.系统的复杂性、固体中波动传播的复杂性及成本费用高等原因使其在工业无损检测中的应用受限。然而随着电子技术和计算机技术的快速发展,超声相控阵技术逐渐应用于工业无损检测,特别是在核工业及航空工业等领域。由于数字电子和DSP技术的发展，使得准确延长时间越来越方便，因此近几年,超声相控阵技术发展的尤为迅速。
超声相控阵探头阵列类别：线阵、面阵
阵列顾名思义就是晶片在探头中排列的几何形状。相控阵探头有3 种主要阵列类型：线形（线阵列）、面形（二维矩形阵列）和环形（圆形阵列）。相控阵探头大多数采用线形阵列，因为线形阵列编程容易，费用明显低于其他阵列。
线阵相控阵探头，线阵相控阵探头有单线阵和双线阵两种，线阵相控阵探头中的晶片按照直线方向一维排布，只能实现晶片排列方向上的波束偏转。双线阵相控阵探头可以得到更好的近场检测效果。
面阵相控阵探头，面阵相控阵探头又有矩阵、环阵等类型。矩阵相控阵探头中的晶片按照两个方向排布，可实现两个方向上的波束偏转。环阵相控阵探头晶片呈同心圆环状排布，主要实现不同深度的聚焦功能。扇阵相控阵探头由环阵再切割而成，聚焦的同时可实现偏转。
超声相控阵的二次波显示
传统相控阵扇形扫查采用单纯的声程显示，不能显示缺陷的真实位置。这种成像模式将处在二次波位置上的缺陷转换成一次波位置进行成像显示，给分辨缺陷的具体位置增加难度，不能直观给出缺陷真实位置。对于检测角焊缝、T 形焊缝、K形焊缝及Y 形焊缝无法显示真实成像结果，使该成像模式的应用受到限制，仅能用于检测对接接头。
而ISONIC-UPA 采用二次波检测成像显示模式，成像结果与真实几何结构一致。这种成像模式能直观显示缺陷的位置及被检工件焊缝的真实结构，这是声程显示成像模式无法比拟的。
相控阵超声检测
动态深度扫描又称动态深度聚焦，超声声束沿阵元中轴线，对不同深度的焦点进行扫描。分为发射动态深度聚焦和接收动态深度聚焦：发射动态聚焦即在发射时以不同聚焦深度延迟对探头进行分别激发，声束焦点在空间中深度方向延伸；接收动态聚焦在发射时使用单个聚焦脉冲，通过接收时不同深度接收延迟对回波脉冲重新聚焦。右图为动态深度扫描示意图，以及普通扇形扫描成像和动态深度聚焦成像对比。
