瞬态光电流/光电压测试系统（载流子迁移率测量系统，瞬态光电流/光电压测量系统、瞬态光电性能测量系统），发光器件发光光谱分析系统以及相关器件的软件模拟研发系统，对于光电器件微观机理研究提供了有效的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。

　　瞬态光电流/光电压测试系统

　　主要应用：

　　* 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件；

　　* 有机太阳能电池OPV；

　　* 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED；

　　* 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）；

　　* 染料敏化太阳能电池DSSC；

　　主要测量功能：

　　* 大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法）

　　* 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC）

　　* 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV）

　　* 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED）

　　* 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage）

　　* 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV）

　　* 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV）

　　* 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV）

　　* 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV）

　　* 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV）

　　* 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS）

　　* 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f）

　　* 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V）

　　* 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L）

　　* 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL）

　　* 载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子）

　　* OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；

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